波长色散X射线荧光光谱仪
- 产品介绍:波长色散X射线荧光光谱仪S8 TIGER 4K有着高精密度和高准确度的*元素分析技术,和化学价态无关,直接的、非破坏性地分析固体、松散粉末和液体样品,制样容易,只需几分钟,操作方法安全,无需有害化学试剂。
- 产品型号:S8 TIGER 4K
- 更新时间:2024-08-26
- 厂商性质:代理商
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产品介绍
波长色散X射线荧光光谱仪
一、简介
波长色散X射线荧光光谱仪S8 TIGER 4K有着高精密度和高准确度的*元素分析技术,和化学价态无关,直接的、非破坏性地分析固体、松散粉末和液体样品,制样容易,只需几分钟,操作方法安全,无需有害化学试剂。其分析性能很好,激发电流170mA,激发电压60kV,可以4KW满功率运行,轻元素分析性能也很好,光路灵活,无需压缩空气,机柜防尘涉及,占地面积小。
二、特点
1、高透光性的真空封挡
在测量液体和松散粉末样品时,程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开,允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气(氮气),真空封挡显著地降低气体消耗量,同时探测器的稳定性更高,结果的精密度更好。在测量过程中,*的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室,防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。
2、高精度光学定位测角仪
采用高精度光学定位测角仪,定位精度高,测角仪直接到达预设角度,快速连续前进,无需反复调整,长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°,角度重现性优于±0.0001°,大扫描速度1200°/分钟,大转角速度4800°/分钟。
3、*的变动理论α系数法
采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,从而进行全面的集成的基体效应校正,这就是变动理论α系数法。其较显著的优点是:需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正,三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题,非常易于使用。
4、*的未知烧失量校正
对于烧失量或烧增量很大的样品,通常的做法是将样品预先灼烧,然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正,分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量,软件会根据其它分析成分估算一个LOI,然后经过多次迭代和拟合,无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正,大大地提高了分析速度也节约了分析成本。
5、角度偏移校正
校正价态、矿源差异等引起的峰位位移,测量结果更准确。
6、几何校正
通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正,从而得到更准确的测量结果。
7、制样校正软件
对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法,采用任意配比、随意称量、准确输入的方法,称样误差小,称样速度快,不同的制样方法可以共用同一工作曲线。
8、P10气体密度稳定器
在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器,使探测器里的气体密度始终保持恒定,保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制,控制更精密。
9、高稳定性的光谱室
光谱室温度稳定性优于±0.05℃,避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化,从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。
10、采用真空度控制测量
对于固体样品,采用真空度控制测量,只有达到预设的真空度才开始测量,避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不*引起强度计数的差异。