涂层测厚仪测量时的注意事项

涂层测厚仪测量时的注意事项：

1、基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

2、基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，再进行测量。

3、边缘效应：不应在紧靠试件的突变处（如边缘、洞和内转角等处）进行测量。

4、曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。

5、读数次数：由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部存在差异，所以在一给定的面积内要进行多次测量，表面粗造时更应如此。

6、表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

7、磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。 

8、测头取向：测头的放置方式对测量结果有影响，在测量时应该与工件保持垂直方向。